CIT-3000SYB 能量色散X荧光分析仪,是公司专门应对欧盟ROHS、WEEE指令和卤素测试要求而量身定做的一款高灵敏度、高精度的分析测试设备。
适用范围
适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素(Pb、Hg、Br、Cd、Cr)和卤素检测;
性能特点
采用数字化谱分析技术,计数率高,无漏计,稳定性好;
采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数,配合专利的数字脉冲处理技术,能量分辨率优于150eV;
40KV-钨靶微型X射线管;
采用2048道多道分析器,分析精度更高;
一体化设计,性能稳定,运行,性价比高;操作简单,测量时间短,同时配备PC机;
测量物质状态:固体、粉末、液体均可测,制样简单;
技术指标
分析元素范围:Na-U
元素含量分析范围:1ppm -99.99%
探测器能量分辨率优于150eV
较低检出限:Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm, Pb≤2ppm,Cl≤20PPm
校正方式:采用欧盟RoHS标样校准数据
测量范围:1-40KeV
高压:0kV-40kV
管流:0μA-100μA
的稳定电源:AC 220V±1%,50HZ(采用国内先进的高品质稳压电源1000VA)
检测时间:120S~600S(时间随样品而调整)
圆形样品真空腔:直径14cm,高5cm;
工作环境温度:温度0-35℃;样品温度<70℃
工作环境相对湿度:≤99%(不结露)
额定功率:50W
仪器重量:25Kg
仪器尺寸:500(W)X500(D)X450(H)mm
仪器配置
仪器主机一台
电制冷半导体探测器
X光管(0-40KV)
高压电源
品牌计算机一台
激光打印机一台
真空泵一台
压片机一台
制样模具一套
稳压电源一台
测试软件一套